產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚電子Zeta電位和粒度分析儀naitokikai

• 從稀釋溶液到濃縮溶液 (~ 40%) 的寬濃度范圍內(nèi)的粒徑和 zeta 電位測量
• 多角度測量，進行粒度分布，分離度更高
• 高鹽濃度下固體表面 Zeta 電位測量
• 使用靜態(tài)光散射的粒子濃度分析     
• 使用動態(tài)光散射進行微流變學測量
• 通過多點測量散射光強度和樣品擴散系數(shù)分析凝膠網(wǎng)絡(luò)和凝膠異質(zhì)性 
• 無需更換樣品即可用于兩種類型測量（粒徑和 zeta 電位）的標準流通池
• ０～90℃的寬測量溫度范圍
• 可對蛋白質(zhì)進行變性（熔解溫度）分析的溫度梯度功能
• 用于精準 zeta 電位測量的電泳遷移率測量和繪圖分析
• 帶通濾波器（選項）
   

• 粒度分布
• Zeta 電位
• 分子量
• 微流變學
• 粒子濃度
• 凝膠網(wǎng)絡(luò)的結(jié)構(gòu)分析
   

 ^＊ 1：直方圖分析的*小值：0.2nm
●測量條件

*2:（Latex112nm： 0.00001 ～ 10%、?；悄懰幔?～ 40%）

*適用于表面化學、無機、半導體、聚合物、生物技術(shù)、制藥和醫(yī)療等領(lǐng)域的粒子表征基礎(chǔ)和應(yīng)用研究，以及薄膜和平面狀態(tài)樣品的表面研究。

• 新功能材料
  燃料電池（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
  生物納米技術(shù)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、**輸送系統(tǒng)（DDS））、納米氣泡
  生物相容材料
   
• 陶瓷和涂料
  陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、二氧化鈦_）無機
  溶膠的表面改性、分散控制 油墨
  、炭黑、有機顏料的分散性、耐久性和保質(zhì)期控制 漿
  態(tài)樣品
  濾色片
  絮凝研究


• Semiconductor
  Alien objects research on silicon wafer
  磨料/添加劑對硅片表面
  CMP漿料的相互作用研究
   
• 聚合物和化學
  乳液分散穩(wěn)定性以延長產(chǎn)品保質(zhì)期
  乳膠表面改性 聚
  電解質(zhì)功能研究
  造紙過程控制和紙漿添加劑研究
   
• 制藥和食品
  乳液分散穩(wěn)定性可延長產(chǎn)品保質(zhì)期
  脂質(zhì)體和囊泡的分散控制 表面
  活性劑（膠束）的功能
  外泌體、
  病毒、病毒樣顆粒（VLP）
  

• 蛋白質(zhì)

  規(guī)格

  測量項目
  • 粒度分布
  • Zeta 電位
  • 分子量
  • 微流變學
  • 粒子濃度
  • 凝膠網(wǎng)絡(luò)的結(jié)構(gòu)分析
     

  規(guī)格

  原則	粒徑		動態(tài)光散射法
  	Zeta 電位		電泳光散射法     （激光多普勒法）
  	分子量		靜態(tài)光散射法
  光學	粒徑		零差系統(tǒng)
  	Zeta 電位		外差系統(tǒng)
  	分子量		零差系統(tǒng)
  光源	窄帶激光二極管
  探測器	高靈敏度 APD
  電池單元	Zeta 電位/粒徑：標準流通池單元
  	粒度：粒度單元
  	粒徑/分子量 : 粒徑多角池單元
  溫度	0 ～ 90℃ （帶梯度功能）
  電源要求	交流電 100 - 240V，50/60Hz，250VA
  尺碼(WDH）	330（W)×565（D)×245（H)mm
  重量	約 22公斤
  標準	粒徑：ISO 22412:2017 / JIS Z 8828:2019
  	Zeta 電位：ISO 13099-2:2012/JIS Z 8836:2017