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OSI王子相位差測量裝置KOBRA系列新品上線KOBRA-HB

日期：2025-10-12 05:02

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摘要：相位差測量裝置 KOBRA系列傳統(tǒng)上已經(jīng)進行了雙折射的分子取向評價，但是用折射計或偏光顯微鏡進行測量很麻煩并且難以**測量。 KOBRA系列使得可以通過簡單的操作快速準確地測量相位差，雙折射，取向角（折射率的上乘方向）。 1.測量范圍寬···1 nm至 2.高重復性··±1 nm 3.優(yōu)異的可操作性 4。實現(xiàn)軟件

相位差測量裝置
KOBRA系列
傳統(tǒng)上已經(jīng)進行了雙折射的分子取向評價，但是用折射計或偏光顯微鏡進行測量很麻煩并且難以**測量。

KOBRA系列使得可以通過簡單的操作快速準確地測量相位差，雙折射，取向角（折射率的上乘方向）。

1.測量范圍寬···1 nm至
2.高重復性··±1 nm
3.優(yōu)異的可操作性
4。實現(xiàn)軟件

測量對象： ■延遲膜，Placel，偏光板
■光盤
■液晶盒
■磁帶用基膜
■收縮膜
■其他通用膜 應用： ■研究和光學功能膜的開發(fā)，質(zhì)量控制
■拉伸膜（三維折射率，表面取向）的取向評價
■包裝膜的熱收縮，抗撕裂性的評價等
■液晶單元，所述波長分散性的評價的扭曲角
■光學元件透射橢圓偏振光的評估

設(shè)備名稱	相位差/橢圓測量裝置	橢圓偏振測量裝置	相位差測量裝置	帶樣品進料的相位差測量裝置

設(shè)備類型	KOBRA-HB系列	KOBRA-WPR	KOBRA-WR	KOBRA-WFD

測量方法	平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法旋轉(zhuǎn)偏振器法平行尼科爾光譜法	平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法旋轉(zhuǎn)偏振器法	平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法	平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法
測量波長	450,500,550,590,630,680 nm 400至800 nm（光譜學）	450,500,550,590,630,750nm
樣本量	垂直入射測量：30mm見方或更大入射角依賴性：30mm至40×50mm，t3或更小			輪廓測量：寬度50mm×長度可選的入射角度依賴性： 30mm至40 ×50mm ， t3或更小
測量面積	33 mm ²（5.8 mm方形：光接收區(qū)域） φ0.8mm（光譜學）	33 mm ²（5.8 mm方形：光接收區(qū)域）
軟件名稱		KOBRA-RE KOBRA-PR KOBRA-TW	KOBRA-RE	KOBRA - DSP / FD KOBRA - RE
測量項目		面內(nèi)延遲測量入射角依賴波長色散特性橢圓偏振測量扭轉(zhuǎn)角測量測試模式	面內(nèi)延遲測量入射角依賴波長色散特性	相位差的輪廓入射角依賴的波長色散特性

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